극한 환경에서의 DRAM/NAND 소자 신뢰성 분석 및 모델링
2026.04.13
삼성전자
Project Information
과제명
극한 환경에서의 메모리 소자 신뢰성 분석 및 모델링
프로젝트 기간
2024.09.01 ~ 2025.08.31
참여 기업
삼성전자
참여 교수 및 학생
참여 교수: 백록현 교수
참여 학생: 최지웅
■ 목표
- 다양한 온도 환경에서 메모리 소자의 신뢰성 특성 분석
- 소자 열화 메커니즘 이해 및 모델링 기반 데이터 확보
■ 성과
- 메모리 소자의 온도 및 스트레스 조건별 전기적 특성 데이터 확보
- 소자 신뢰성 평가를 위한 분석 및 측정 프로세스 구축
- 노이즈 및 특성 변화를 기반으로 한 열화 경향 분석
- 산학 협력을 통한 실무 기반 연구 수행 및 데이터 축적